TXRF saturation effects in atomic contamination analysis
D. Hellin
TXRF saturation effects in atomic contamination analysis advanced micro-electronic devices
Paperback170 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789056825935
Bibliografisch
ISBN-139789056825935
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s170
GeïllustreerdNee
Uitgave
CB-relatie-id8109288
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01D. Hellin
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026