TXRF saturation effects in atomic contamination analysis
D. Hellin
TXRF saturation effects in atomic contamination analysis advanced micro-electronic devices
Paperback170 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789056825935
Bibliografisch
ISBN-139789056825935
Editie1
TaalEngels eng
Pagina’s170
GeïllustreerdNee
Uitgave
CB-relatie-id8109288
StatusOnbekend 00
Vorm & inhoud
ProductvormPaperback BC
SamenstellingLos product
Classificatie
NUR (hoofd)Technische wetenschappen algemeen 950
NUR (alle)950 Technische wetenschappen algemeen
Medewerkers
Auteur A01D. Hellin
Herkomst
MeldingBevestigd bij publicatie 03
Bijgewerkt6 augustus 2026
Lijkt op dit boek

Gastechnicus

Ontmanteling van een kerncentrale

Waterstof en de verliezen onderweg

Luchtverkeersleiding in gewone taal

Wissels, seinen en de dienstregeling

Teruglevering en negatieve prijzen

Desalination: Drinking the Sea

Brandwerendheid: hoe een gebouw tijd koopt

Tunnelboren onder een bewoonde stad

Chipfabricage van zand tot processor
CB-relatie 8109288 · Bijgewerkt 6 augustus 2026