Mijn boeken
Catalogus
Interface characterization and failure modeling for semiconductor application
An Xiao

Interface characterization and failure modeling for semiconductor application

Paperback150 pagina’sEngels
In het kort
ISBN-13
9789491104121
Verschenen
31 oktober 2012

Lijkt op dit boek

NSTC 500497840 · CB-relatie 7623860 · Bijgewerkt 6 augustus 2026
Bestel bij bol →
← Catalogus
Interface characterization and failure modeling for semiconductor application
An Xiao

Interface characterization and failure modeling for semiconductor application

Paperback150 pagina’sEngels
Bestel bij bol →
In het kort
ISBN-13
9789491104121
Verschenen
31 oktober 2012

Lijkt op dit boek

Alles bekijken →
NSTC 500497840 · CB-relatie 7623860 · Bijgewerkt 6 augustus 2026